固話(huà)：0512-67568909 
手機(jī)：18013255727 
您的位置：
產(chǎn)品分類(lèi)products
-
- 航裕電源 HY POWER
-
- 艾普斯 Preen / APC
-
- 致茂 Chroma
-
- 致遠(yuǎn) ZLG
-
- EA電源/負(fù)載
-
- 菊水 KIKUSUI
-
- 益和 MICROTEST
-
- 鼎陽(yáng) SIGLENT
-
- 恩智 NGI
-
- 羅德與施瓦茨 R&S
-
- 吉時(shí)利 KEITHLEY
-
- 泰克 Tektronix
-
- 迪凡斯 Defense
-
- 中國(guó)臺(tái)灣華儀 EXTECH / eec
-
- MEATEST校準(zhǔn)器
-
- 飛礎(chǔ)科 FOTRIC
-
- 阿黛凱 ATEQ
-
- TDK
-
- 安規(guī)測(cè)試儀測(cè)試線(xiàn)材
-
- 3Ctest/EMC傳導(dǎo)測(cè)試儀器
-
- Leica /徠卡
-
- 日置
-
- ITECH
-
- 普源
安規(guī)測(cè)試儀包含什么
安規(guī)測(cè)試儀用于高電壓元、器件的耐壓測(cè)量試驗(yàn)（用交、直流耐壓儀），如硅堆等。主要是用來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品是否漏電、是否接地良好、會(huì)不會(huì)傷害人身安全的，主要檢測(cè)項(xiàng)目有電壓、泄漏電流、絕緣電阻和接地電阻。
安規(guī)測(cè)試儀具體有哪些測(cè)試項(xiàng)目及解釋?zhuān)?br />1、耐壓測(cè)試耐壓測(cè)試是常見(jiàn)的安規(guī)測(cè)試之一，常見(jiàn)的dielectricwithstand、highpotential、hipottest都是指耐壓測(cè)試。耐壓測(cè)試的主要目的測(cè)試DUT(DeviceunderTest)的絕緣能力。故當(dāng)設(shè)備在運(yùn)作時(shí)，對(duì)測(cè)試點(diǎn)施以一高壓，測(cè)試是否有絕緣破壞(Breakdown)或電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)發(fā)生。
2、絕緣測(cè)試絕緣類(lèi)型分為四種：基本絕緣(Basic)、輔助絕緣(Supplementary)、雙重絕緣(Double)以及加強(qiáng)絕緣(Reinforced)。由於產(chǎn)品內(nèi)部可能因灰塵過(guò)多、潮濕或是其他原因?qū)е卵孛娣烹姡虼艘岔氁阅蛪簻y(cè)試判斷產(chǎn)品內(nèi)部電路設(shè)計(jì)是否有沿面距離或絕緣不足等問(wèn)題。
3、接地阻抗測(cè)試 接地保護(hù)有二種測(cè)試方法：接地連續(xù)測(cè)試(GroundContinuitytest,GC)及接地連接測(cè)試(GroundBondtest,GB)。接地保護(hù)測(cè)試的目的在於不讓使用者在不當(dāng)電流產(chǎn)生時(shí)，電流會(huì)流向大地，接觸機(jī)體則不會(huì)導(dǎo)致電氣危害。
4、絕緣電阻測(cè)試 絕緣阻抗測(cè)試和直流耐壓測(cè)試是非常相似的，於相關(guān)連的兩點(diǎn)施以直流電壓(50~1000V)，可判定良品及不良品。絕緣阻抗測(cè)試為非破壞試驗(yàn)，且能偵測(cè)絕緣是否良好，在某些規(guī)范中，是先做絕緣阻抗測(cè)試再進(jìn)行耐壓測(cè)試，而絕緣阻抗測(cè)試無(wú)法通過(guò)時(shí)，往往耐壓測(cè)試也無(wú)法通過(guò)。
5、漏電流測(cè)試 當(dāng)電流經(jīng)過(guò)絕緣阻抗後溢出，稱(chēng)之為漏電流(Leakagecurrent)，當(dāng)漏電流經(jīng)由人體接觸，使電流經(jīng)過(guò)人體後流向Earth，即造成電氣傷害。漏電流測(cè)試與耐壓測(cè)試、接地保護(hù)測(cè)試的不同處，在於設(shè)備是在運(yùn)作狀態(tài)下做測(cè)試。
- 上一篇：耐壓測(cè)試儀如何操作？
- 下一篇：絕緣耐壓測(cè)試儀檢測(cè)原理
